Apresentação
O Laboratório Institucional de Microscopia conta com 5 microscópios de diferentes técnicas.
Equipamentos
Detalhes sobre os equipamentos que podem ser encontrados no laboratório.
Microscópio eletrônico de varredura Jeol 6360 LV
É indicado para análises que não necessitam de altas ampliações (até 30.000x de ampliação).
O detector de EDS permite a análise elementar semi-quantitativa das amostras. Apesar de ser possível realizar mapeamento elementar, esta análise não é indicada no Jeol 6360 LV, pois são necessários tempos de aquisição muito longos.
Amostras não indicadas para análises:
• Substâncias voláteis
• Substâncias com alto teor de água
• Substâncias contendo solvente e/ou óleo
• Substâncias magnéticas
• Substâncias corrosivas
Microscópio eletrônico de varredura Quanta FEG 250 - FEI
Está equipado com os seguintes detectores:
• Everhart-Thornley detector – ETD. Detector de elétrons secundários, utilizado para fazer imagens da topografia da amostra.
• Circular backscatter detector – CBS. Detector de elétrons retroespalhados, que permite obter imagens de topografia, como também imagens de contraste por número atômico.
• Large field detector – LFD. Detector utilizado no modo Low Vacuum, que permite obter imagens de amostras não condutoras e não foram metalizadas.
• Environmental scanning electron microscopy – ESEM. Permite obter imagens no “Modo Ambiental”, que é um modo de baixo vácuo. Permite obter imagens de amostras com teor moderado de água (20 a 30%), ou em ambiente úmido.
• Scanning transmission electron microscopy – STEM. Detector no modo transmissão, que permite obter imagens de alta resolução (ampliações de até 300.000x) de amostras nanoestruturadas.
• Energy dispersive spectrometer – EDS. Detector de EDS modelo X-Max50 da Oxford. Permite realizar análise elementar semi-quantitativa das amostras e também análise pontual e mapeamento elementar. Apresenta maior resolução de energia e velocidade de aquisição de dados em relação ao EDS instalado no Jeol 6360 LV.Este microscópio permite obter imagens com alta resolução, mesmo quando operado em baixa voltagem de aceleração dos elétrons (usualmente até 2 kV), o que possibilita analisar amostras sensíveis ao feixe de elétrons e também amostras com dimensões nanométricas, tais como óxido de grafeno e nanocristais de celulose.Amostras não indicadas para análises:
• Substâncias voláteis
• Alto teor de água
• Pode conter solvente/óleo
• Magnéticas
• Corrosivas
Microscópio de força atômica Easyscan 2 FlexAFM – Nanosurf
É indicado para análise da superfície de uma ampla gama de materiais, incluindo aqueles que não podem ser analisados por SEM, como por exemplo:
• Materiais contendo alto teor de água
• Materiais contendo resíduos de solvente e/ou óleo, incluindo petróleo e asfaltenos
• Materiais magnéticosOs principais modos de operação são:
• Non-contact/tapping. É o modo padrão de operação do AFM, permite obter informações da topografia da amostra e também contraste de fase.
• Kelvin probe force microscopy. O modo KPFM permite obter um mapa do potencial de superfície das amostras, simultaneamente à obtenção da imagem de topografia.
Equipamento para preparo de amostras: Metalizador MED020 – Baltec
O recobrimento das amostras pode ser realizado por meio de:
• Sputtering (com a liga Au/Pd e o metal Ir)
• Evaporação de carbono
Microscópio Confocal de Varredura a Laser – Leica TCS SP5
O microscópio confocal permite a obtenção de seções óticas das amostras, formando imagens bem definidas que podem ser utilizadas para gerar uma imagem 3D. Outras funções disponíveis são a construção dos espectros de emissão e também ensaios em tempo real (time series).
As linhas de laser disponíveis são:
Laser – Comprimento de onda (nm)
Argônio – 458, 476, 488, 496, 514
He:Ne – 543, 594, 633É indicada para amostras biológicas, como cultura de células ou cortes de tecidos, e também na análise de materiais (polímeros, cerâmicas e metais).
Por se tratar de um microscópio de fluorescência, no caso da amostra não possuir fluorescência natural deve ser adicionado um fluoróforo, cujo espectro de absorção de luz seja compatível com os comprimentos de onda de excitação disponíveis no equipamento. Apesar de não ser o modo de operação convencional, podem também ser obtidas imagens de reflexão de luz.
Os principais experimentos realizados no Microscópio Confocal são:
• Obtenção de imagens bidimensionais
• Construção de imagens tridimensionais
• Colocalização
• Marcação de estruturas específicas por imunofluorescência
• Análise quantitativa
• Experimentos em tempo real (time series)
• Obtenção do espectro de fluorescência
• FRAP – Fluorescence recovery after photobleaching
• FRET – Fluorescence resonance energy transfer
Microscópio Ótico – Nikon E800
Impressora FDM Sethi3D S3
Área de impressão: 270 x 270 x 320 mm (23.3 litros).
Extrusor com bico com saída de 0,2 mm.
Trabalha com filamento de 1,75 mm.
Altura de camada ajustável de 50 m (0,05 mm) à 300 m (0,3 mm). Velocidade de impressão até 150 mm/s e de deslocamento até 300 mm/s.
Mesa aquecida de alumínio.
Conexão com computador através de interface USB.
Localização: Lab. B-207
É indicado para análise da superfície de uma ampla gama de materiais, incluindo aqueles que não podem ser analisados por SEM, como por exemplo:
• Materiais contendo alto teor de água
• Materiais contendo resíduos de solvente e/ou óleo, incluindo petróleo e asfaltenos
• Materiais magnéticosOs principais modos de operação são:
• Non-contact/tapping. É o modo padrão de operação do AFM, permite obter informações da topografia da amostra e também contraste de fase.
• Kelvin probe force microscopy. O modo KPFM permite obter um mapa do potencial de superfície das amostras, simultaneamente à obtenção da imagem de topografia.
Impressora FDM Sethi3D AiP
É indicado para análise da superfície de uma ampla gama de materiais, incluindo aqueles que não podem ser analisados por SEM, como por exemplo:
• Materiais contendo alto teor de água
• Materiais contendo resíduos de solvente e/ou óleo, incluindo petróleo e asfaltenos
• Materiais magnéticosOs principais modos de operação são:
• Non-contact/tapping. É o modo padrão de operação do AFM, permite obter informações da topografia da amostra e também contraste de fase.
• Kelvin probe force microscopy. O modo KPFM permite obter um mapa do potencial de superfície das amostras, simultaneamente à obtenção da imagem de topografia.
Impressora DLP ASIGA FreeForm UV-PRO2
É indicado para análise da superfície de uma ampla gama de materiais, incluindo aqueles que não podem ser analisados por SEM, como por exemplo:
• Materiais contendo alto teor de água
• Materiais contendo resíduos de solvente e/ou óleo, incluindo petróleo e asfaltenos
• Materiais magnéticosOs principais modos de operação são:
• Non-contact/tapping. É o modo padrão de operação do AFM, permite obter informações da topografia da amostra e também contraste de fase.
• Kelvin probe force microscopy. O modo KPFM permite obter um mapa do potencial de superfície das amostras, simultaneamente à obtenção da imagem de topografia.
Impressora LCD Anycubic Photon 2K
É indicado para análise da superfície de uma ampla gama de materiais, incluindo aqueles que não podem ser analisados por SEM, como por exemplo:
• Materiais contendo alto teor de água
• Materiais contendo resíduos de solvente e/ou óleo, incluindo petróleo e asfaltenos
• Materiais magnéticosOs principais modos de operação são:
• Non-contact/tapping. É o modo padrão de operação do AFM, permite obter informações da topografia da amostra e também contraste de fase.
• Kelvin probe force microscopy. O modo KPFM permite obter um mapa do potencial de superfície das amostras, simultaneamente à obtenção da imagem de topografia.
Impressora LCD Phrozen Sonic Mini 8K
É indicado para análise da superfície de uma ampla gama de materiais, incluindo aqueles que não podem ser analisados por SEM, como por exemplo:
• Materiais contendo alto teor de água
• Materiais contendo resíduos de solvente e/ou óleo, incluindo petróleo e asfaltenos
• Materiais magnéticosOs principais modos de operação são:
• Non-contact/tapping. É o modo padrão de operação do AFM, permite obter informações da topografia da amostra e também contraste de fase.
• Kelvin probe force microscopy. O modo KPFM permite obter um mapa do potencial de superfície das amostras, simultaneamente à obtenção da imagem de topografia.
Impressora LCD Anycubic Photon Mono M5s
É indicado para análise da superfície de uma ampla gama de materiais, incluindo aqueles que não podem ser analisados por SEM, como por exemplo:
• Materiais contendo alto teor de água
• Materiais contendo resíduos de solvente e/ou óleo, incluindo petróleo e asfaltenos
• Materiais magnéticosOs principais modos de operação são:
• Non-contact/tapping. É o modo padrão de operação do AFM, permite obter informações da topografia da amostra e também contraste de fase.
• Kelvin probe force microscopy. O modo KPFM permite obter um mapa do potencial de superfície das amostras, simultaneamente à obtenção da imagem de topografia.